电路原理中的高中数学向量计算公式

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2017-11-24 09:36 标签： matlab计算向量的模
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应用数学-电工向量的计算【大专教材】曹勃 主编
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习题9－13图所示电路中，已知I2=10A， ，求电流和电压，并画出此电路的向量图。
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习题9-13图所示电路中，已知I2=10A，，求电流和电压，并画出此电路的向量图。&&
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1在LC正弦波振荡电路中，不用通用型集成运算放大器作放大电路的原因是其上限截止频率太低，难以产生高频振荡信号。
)2当集成运放工作在非线性区时，输出电压不是高电平，就是低电平。
)3一般情况下，电压比较器的集成运算放大器工作在开环状态，或者引入了正反馈。
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按你的方程我算一遍：(2 - j2) i1 - (- j2) is = - us = - 22 (1 - j ) i1+ j2 (-j) = -22 (1 - j ) i1 + 2 = - 2i1 = -2 / (1 - j ) = - 2 (1 + j) / ((1 - j) * (1 + j))= -2 (1 + j) / 2= -1 - j我按左边网孔电流顺时针列方程：(2 - j2) i1 + ( - j2) is = us2 (1 - j) i1 - j2 * (- j) = 22 (1 - j) i1 - 2 = 2(1 - j) i1 = 2i1 = 2 / (1 - j)i1 = 2 (1+j) / ((1-j)(1+j))= 2(1+j) / 2= 1+j哈哈~,都想放弃了,总算明白了!你没有错,你的参考电流方向是错的,答案自然是负值!折腾了我一个多小时!i1 = - 1 - j = - (1 + j) !
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IC测试基本原理与ATE测试向量生成
ATE向量信息以一定格式的文件保存，JC-3165向量文件为*.MDC文件。在ATE测试中，需将*.MDC文件通过图形文件编译器，编译成测试程序可识别的*.MPD文件。在测试程序中，通过装载图形命令装载到程序中。图4 ATE测试向量格式2.2 ATE测试向量的生成对简单的集成电路，如门电路，其ATE测试向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而对于一些集成度高，功能复杂的IC，其向量数据庞大，一般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量，因此，有必要探寻一种方便可行的方法，完成ATE向量的生成。在IC设计制造产业中，设计、验证和仿真是不可分离的。其ATE测试向量生成的一种方法是，从基于EDA工具的仿真向量（包含输入信号和期望的输出），经过优化和转换，形成ATE格式的测试向量。依此，可以建立一种向量生成方法。利用EDA工具建立器件模型，通过建立一个Test bench仿真验证平台，对其提供测试激励，进行仿真，验证仿真结果，将输入激励和输出响应存储，按照ATE向量格式，生成ATE向量文件。其原理如图5所示。图5 ATE向量生成示意图2.3测试平台的建立（1）DUT模型的建立①164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL语言[5]，建立164245模型。164245是一个双8位双向电平转换器，有4个输入控制端：1DIR，1OE，2DIR，2OE；4组8位双向端口：1A，1B，2A，2B.端口列表如下：input DIR_1，DIR_2，OE_1，OE_2；inout [0：7] a_1，a_2，b_1，b_2；reg [0：7] bfa1，bfb1，bfa2，bfb2；//缓冲区②缓冲器模型：建立一个8位缓冲器模型，用来做Test bench与164245之间的数据缓冲，通过在Testbench总调用缓冲器模块，解决Test bench与164245模型之间的数据输入问题。（2）Test bench的建立依据器件功能，建立Test bench平台，用来输入仿真向量。Test bench中变量定义：reg dir1，dir2，oe1，oe2；//输入控制端reg[0：7] a1，a2，b1，b2；//数据端reg[0：7] A1_out[0：7]；//存储器，用来存储数据reg[0：7] A2_out[0：7]；reg[0：7] B1_out[0：7]；reg[0：7] B2_out[0：7]；通过Test bench提供测试激励，经过缓冲区接口送入DUT，观察DUT输出响应，如果满足器件功能要求，则存储数据，经过处理按照ATE图形文件格式产生*.MDC文件；若输出响应有误，则返回Test bench和DUT模型进行修正。其原理框图可表示如图6所示。图6 Test bench验证平台框图（3）仿真和验证通过Test bench给予相应的测试激励进行仿真，得到预期的结果，实现了器件功能仿真，并获得了测试图形。图7和图8为部分仿真结果。图7仿真数据结果在JC-3165的*.MDC图形文件中，对输入引脚，用“1”和“0”表示高低电平；对输出引脚，用“H”和“L”表示高低电平：“X”则表示不关心状态。由于在仿真时，输出也是“0”和“1”，因此在验证结果正确后，对输出结果进行了处理，分别将“0”和“1”转换为“L”和“H”，然后放到存储其中，最后生成*.MDC图形文件。图8生成的*.MDC文件3结论本文在Modelsim环境下，通过Verilog HDL语言建立一个器件模型，搭建一个验证仿真平台，对164245进行了仿真，验证了164245的功能，同时得到了ATE所需的图形文件，实现了预期所要完成的任务。随着集成电路的发展，芯片设计水平的不断提高，功能越来越复杂，测试图形文件也将相当复杂且巨大，编写出全面、有效，且基本覆盖芯片大多数功能的测试图形文件逐渐成为一种挑战，在ATE上实现测试图形自动生成已不可能。因此，有必要寻找一种能在EDA工具和ATE测试平台之间的一种灵活通讯的方法。目前常用的一种方法是，通过提取EDA工具产生的VCD仿真文件中的信息，转换为ATE测试平台所需的测试图形文件，这需要对VCD文件有一定的了解，也是进一步的工作。
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