方块电阻又称膜电阻是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率
方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。
1、用這种方法毫欧计可以测试到几百毫欧几十毫欧，甚至更小的方阻值
2、由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻铜棒到仪器嘚引线电阻，即使比被测电阻大也不会影响测试精度
3、测试精度高。由于毫欧计等仪器的精度很高方阻的测试精度主要由膜宽W和导电棒BC之间的距离L的机械精度决定，由于尺寸比较大这个机械精度可以做得比较高。
在实际操作时为了提高测试精度和为了测试长条状材料，W和L不一定相等可以使L比W大很多，此时方阻Rs=Rx*W/LRx为毫欧计读数。
探头由四根探针阻成要求四根探针头部的距离相等。四根探针由四根引联接到方阻测试仪上当探头压在导电薄膜材料上面时，方阻计就能立即显示出材料的方阻值
具体原理是外端的两根探针产生电流场，内端上两根探针测试电流场在这两个探点上形成的电势因为方阻越大，产生的电势也越大因此就可以测出材料的方阻值。
需要提出嘚是虽然都是四端测试但原理上与图二所示用铜棒测方阻的方法不同。因电流场中仅少部分电流在BC点上产生电压（电势）所示灵敏度偠低得多，比值为1：4.53
方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关，表征膜层致密性同时表征对热红外光谱的透过能力。
方块电阻测量数值愈大则隔离热红外性能越差，方块电阻测量数值愈小则隔离热红外性能越好对于建筑行业来讲低辐射玻璃的热红外性能测量的快速测量就必须选用方块电阻测量儀，测量值愈小则建筑材料就愈节能
如果方阻值比较小，如在几个欧姆以下因为存在接触电阻以及万用表本身性能等因素，用万用表測试就会存在读数不稳和测不准的情况这时就需要用专门的用四端测试的低电阻测试仪器，如毫欧计、微欧仪等
用四根光洁的圆铜棒壓在导电薄膜上。四根铜棒用A、B、C、D表示它们上面焊有导线接到毫欧计上，使BC之间的距离L等于导电薄膜的宽度W至于AB、CD之间的距离没有偠求，一般在10--20mm就可以了接通毫欧计以后，毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值
蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的最好方法就是测试它们的方阻
如果有一块正方形的薄膜，薄膜的厚度为 t 正方形的邻边长为 a 和 b （其中a=b），
按公式 ρ=RS/L 这块薄膜的电阻率 ρ=R a*t / b （其中R为这个方型薄膜的电阻---即方块电阻）
----可见如果薄膜材料的电阻率p 确定，则薄膜的方块电阻R 与 t 成反比
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